鍍層測厚儀維修專(zhuān)業(yè)維修XRF-2000韓國測厚儀（Micro Pioneer）

鍍層測厚儀維修專(zhuān)業(yè)維修鍍層測厚儀XRF-2000-H型

專(zhuān)業(yè)維修鍍層測厚儀XRF-2000-L型

專(zhuān)業(yè)維修鍍層測厚儀XRF-2000-PCB型

專(zhuān)業(yè)維修 鍍層測厚儀 CMI900系列

專(zhuān)業(yè)維修鍍層測厚儀 X-Strata920系列

專(zhuān)業(yè)維修鍍層測厚儀 COMPACT Eco系列

專(zhuān)業(yè)維修鍍層測厚儀 MAXXI系列

更換X光射線(xiàn)管，維修準直器，維護高壓包，標準片建檔，電腦軟件升級等。

瑞思遠科技憑借多年的儀器銷(xiāo)售經(jīng)驗及廣大的客戶(hù)群特設儀器設備工程部，有多名具有豐富經(jīng)驗 、職業(yè)道德良好的高級儀器維修工程師，竭力為廣大的用戶(hù)提供儀器設備的維修、保養。我們以“保證質(zhì)量、價(jià)格合理、快捷交貨”的服務(wù)宗旨，熱情靈活的服務(wù)方式，贏(yíng)得了廣大用戶(hù)的信任和好評。歡迎更多用戶(hù)與我們達成合作。

標準片建檔

產(chǎn)品介紹

X 螢光射線(xiàn)膜厚分析儀是利用 XRF 原理來(lái)分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。 

XRF-2000 系列分為以下叁種： 

1. H-Type :密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。 

2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測量 樣品較小，高度約30mm以下。 

3. PCB-Type : 開(kāi)放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測。  

應用

測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍： Ti(22)~U(92 )。  

行業(yè)

五金類(lèi)、螺絲類(lèi)、 PCB 類(lèi)、連接器端子類(lèi)行業(yè)、電鍍類(lèi)等。

特色

非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。

可測量高達六層的鍍層 (五層厚度   底材 ) 并可同時(shí)分析多種元素。

相容Microsoft微軟作業(yè)系統之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告。

全系列*設計樣品與光徑自動(dòng)對準系統。

標準配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。

準直器口徑多種選擇，可根據樣品大小來(lái)選擇準值器的口徑。 

移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺電動(dòng)控制，減少人為視差。 

*2D與3D或任意位置表面量測分析。

雷射對焦，搭配彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

標準ROI軟體 搭配內建多種專(zhuān)業(yè)報告格式，亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。

光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對位。 

單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。

優(yōu)於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的優(yōu)勢。 

儀器正常使用保固期一年，強大的專(zhuān)業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。

測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。

韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號

Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀

是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能，

其物點(diǎn)為：高分辨率，固態(tài)探測器; 可分析超薄樣品

分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優(yōu)化的應用;

可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；

電鍍溶液分析；

定性分析超過(guò)30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規則形狀；

貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；

自動(dòng)過(guò)濾器，多準直儀(五個(gè)準直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動(dòng)X(jué)YZ移動(dòng)樣品臺；

性?xún)r(jià)比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器

儀器尺寸：W610mmD670mmH490mm, 重量：75Kg(net)  

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