X射線(xiàn)貴重金屬鍍層電鍍厚度測厚儀，主要應用于一般工件、線(xiàn)路板、五金電鍍、半導體支架電鍍、人造首飾、端子及電子元器件等產(chǎn)品的各種鍍層行業(yè)的一款儀器，全自動(dòng)軟件操作，多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺，是一款功能強大的儀器

現在市場(chǎng)上膜厚儀主要有：菲希爾（FISCHER）， 精工（SII），韓國（MicroPioneer），牛津（CMI）。國產(chǎn)的有：三V儀器。在測量精度和性能上，國產(chǎn)的基本上是沒(méi)用，只能擺著(zhù)看。

 膜厚儀在穩定，故障率，和精度，方面來(lái)講，只能說(shuō)菲希爾（FISCHER）韓國（MicroPioneer），牛津（CMI）這四*是*。市場(chǎng)上占有率zui大的也是這四*，

四*主要用于五金電鍍廠(chǎng)，鐘表，端子，連接器，TED，衛浴，線(xiàn)路板，及一些復雜的電鍍領(lǐng)域，如合金鍍層，二元合金，三元合金，等多元合金

菲希爾（FISCHER）占有市場(chǎng)的30%，在測量精度，還是儀器穩定上來(lái)說(shuō)都很不錯。但由于價(jià)格高昂，維修，消耗品（如標準片，一片的價(jià)格可以買(mǎi)其他品牌的3片，且無(wú)法更換其他品牌的使用）雖然儀器精度高。穩定性好。但市場(chǎng)主要為早期所建立。

        精工（SII）主要對應大的日資企業(yè)，軟件應用，相比菲希爾要麻煩一些。它所采用的是標準曲線(xiàn)法，來(lái)建立測量檔案。所以需要大量的厚度不一的標準塊。儀器穩定性和精度也還是不錯的。不過(guò)有一點(diǎn)。日本原裝的，比上海組裝的要好?，F在精工所銷(xiāo)售的。大部份是上海組裝的。品質(zhì)相對的來(lái)說(shuō)。會(huì )差一點(diǎn)。售后維修也是高昂，且中國人民也是反對日本貨的。

       韓國（MicroPioneer）和牛津（CMI），  而牛津（CMI）因為配置是zui低端的配置如CMI900所以?xún)r(jià)格比較低，測量數據沒(méi)有四年前進(jìn)口機型穩定。zui主要的是故障率太高了，更換配件的成本很高。CMI也是用標準曲線(xiàn)法來(lái)建立測量檔案的。也需要購買(mǎi)標準塊，雖然價(jià)格低。但后期一但出現故障要更換配件。而且在對于合金鍍層，和薄金。薄鎳，等一些元素的測量上，那個(gè)誤差大的相當離譜。甚至測不到。

       X射線(xiàn)貴重金屬鍍層電鍍厚度測厚儀有高中低3個(gè)款型，測試的準直器也有1-5個(gè)可選，除了對復雜的電鍍領(lǐng)域（如金厚度為0.01um以下）的不是很準確，其他鍍層都可以測試達到標準，主要價(jià)格方面低過(guò)菲希爾（FISCHER）， 精工（SII），牛津（CMI）許多，在每年的軟件更新后和硬件的升級。也受到國內廠(chǎng)商的大力好評，如美的（美的順德，武漢，重慶，合肥，蕪湖，都以采購使用），比亞迪（2012投標以使用），富士康（2007年使用之今）等多個(gè)客戶(hù)群?？梢詠?lái)電 深圳市瑞思遠科技有限公司 索取使用客戶(hù)資料。

產(chǎn)品介紹

是利用 XRF 原理來(lái)分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。

XRF-2000 系列分為以下叁種：

1. H-Type :密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。

2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測量 樣品較小，高度約30mm以下。

3. PCB-Type : 開(kāi)放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 。

X射線(xiàn)貴重金屬鍍層電鍍厚度膜厚儀應用

測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍： Ti(22)~U(92 )。

行業(yè)

五金類(lèi)、螺絲類(lèi)、 PCB 類(lèi)、連接器端子類(lèi)行業(yè)、電鍍類(lèi)等。

特色

非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。

可測量高達六層的鍍層 (五層厚度   底材 ) 并可同時(shí)分析多種元素。

相容Microsoft微軟作業(yè)系統之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告 。

全系列*設計樣品與光徑自動(dòng)對準系統。

標準配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。

準直器口徑多種選擇，可根據樣品大小來(lái)選擇準值器的口徑。

移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺電動(dòng)控制，減少人為視差 。

*2D與3D或任意位置表面量測分析。

雷射對焦，搭配彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

標準ROI軟體 搭配內建多種專(zhuān)業(yè)報告格式，亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。

光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對位。

單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。

優(yōu)於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的*優(yōu)勢。

儀器正常使用保固期一年，強大的專(zhuān)業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。

測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。

韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號

Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀

是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能，

其物點(diǎn)為：高分辨率，固態(tài)探測器; 可分析超薄樣品

分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優(yōu)化的應用;

可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；

電鍍溶液分析；

定性分析超過(guò)30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規則形狀；

貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；

自動(dòng)過(guò)濾器，多準直儀(五個(gè)準直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺；

性?xún)r(jià)比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器

儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg (net)  

測厚儀，膜厚儀，X射線(xiàn)，XRF，韓國，微先鋒，X熒光，鍍層

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