X射線(xiàn)測厚儀（XRF-2000）

　　X-射線(xiàn)鍍層測厚儀的特征：
　　1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
　　2.可通過(guò)CCD攝像機來(lái)觀(guān)察及選擇微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
　　3.備有250個(gè)以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標準樣品。
　　
　　韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線(xiàn)測厚儀（全新*）
　　XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量，同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*，而且價(jià)錢(qián)*，同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘，便能非破壞性地得到準確的測量結果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺，鐳射自動(dòng)對焦系統，十字線(xiàn)自動(dòng)調整。超大／開(kāi)放式的樣品臺，可測量較大的產(chǎn)品。是線(xiàn)路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的?？蓽y量各類(lèi)金屬層、合金層厚度等。
　　可測元素范圍：鈦（Ti）–鈾（U）原子序 22–92.
　　準直器：固定種類(lèi)大?。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
　　自動(dòng)種類(lèi)大?。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
　　電腦系統：DELL品牌電腦，17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機
　　綜合性能：鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統計功能

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：肖恒瑞

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